屏蔽層直流電阻不合格可能由材料問題、制造工藝缺陷、接觸不良、測量誤差、環境因素導致，以下是具體分析：
一、材料問題
原材料質量：屏蔽層通常采用金屬材料（如銅、鋁）或導電聚合物。若原材料本身純度不足、含有雜質或存在缺陷，會導致電阻率升高，直接影響直流電阻值。例如，無氧銅桿的電阻率通常低于低氧銅桿，若采用低氧銅桿生產屏蔽層，可能因電阻率較高而導致直流電阻不合格。
材料老化：長期存儲或使用過程中，屏蔽層材料可能因氧化、腐蝕或環境侵蝕而老化，導致電阻率上升。例如，金屬屏蔽層在潮濕環境中易發生氧化反應，生成氧化層，增加接觸電阻。
二、制造工藝缺陷
繞組接頭焊接不良：在屏蔽層與導體的連接處，若焊接工藝存在缺陷（如焊接溫度不足、焊接時間過短、焊料質量差等），會導致接觸電阻增大，影響直流電阻值。
分接開關接觸不良：對于可調式屏蔽層（如某些變壓器中的分接開關屏蔽層），若觸點氧化、壓力不足或接觸面積過小，會導致接觸電阻不穩定，進而影響直流電阻測量結果。
導線斷股或匝間短路：在屏蔽層編織或繞制過程中，若導線存在斷股現象，會增加電阻；若發生匝間短路，可能局部改變電阻分布，導致直流電阻不合格。
三、接觸不良
接觸面氧化：屏蔽層與導體或其他部件的接觸面若長期暴露在空氣中，可能因氧化而生成氧化層，增加接觸電阻。例如，金屬屏蔽層與銅排連接處若未進行防氧化處理，易因氧化而導致接觸電阻升高。
接觸壓力不足：若屏蔽層與導體或其他部件的接觸壓力不足，會導致接觸面積減小，接觸電阻增大。例如，在電纜終端頭制作過程中，若屏蔽層與導體壓接不緊，易因接觸壓力不足而導致直流電阻不合格。
四、測量誤差
測量方法不當：直流電阻測量需遵循標準流程，如長時間放電后測試、采用合適的測量儀器和比例臂等。若測量方法不當（如接線錯誤、設備未校準、未進行溫度補償等），會導致數據失真，影響直流電阻測量結果。
環境溫度影響：直流電阻值受環境溫度影響顯著。若未對環境溫度進行校正，實測值可能與標準值存在偏差。例如，在高溫環境下測量屏蔽層直流電阻，若未進行溫度補償，實測值可能偏低。
五、環境因素
存儲溫度過高：長期存儲在高溫環境中的屏蔽層，可能因材料熱降解而導致電阻率上升。例如，聚合物基材的屏蔽層在高溫下可能發生熱老化，導致機械強度降低、脆性增加，進而影響直流電阻值。
濕度影響：高濕度環境可能導致屏蔽層材料吸濕，進而影響電阻率。例如，某些導電聚合物在吸濕后電阻率可能發生變化，導致直流電阻不合格。
